Eine einfache Methode zur Bestimmung der Systemkonstanten bei Bedeckungsveränderlichen [Reprint 2021 ed.] 9783112536063, 9783112536056

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German Pages 56 [59] Year 1950

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Eine einfache Methode zur Bestimmung der Systemkonstanten bei Bedeckungsveränderlichen [Reprint 2021 ed.]
9783112536063, 9783112536056

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H. Schneller

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DEUTSCHE AKADEMIE DER W I S S E N S C H A F T E N ZU B E R L I N

Veröffentlichungen der Sternwarte in S o n n e b e r g Band 1 Nummer 4

H. Schneller

Eine einfache Methode zur Bestimmung der Systemkonstanten bei Bedeckungsveränderlichen

Akademie-Verlag GmbH

• Berlin

1949

H. S c h n e l l e r : Eine einfache Methode zur Bestimmung der Systemkonstanten bei Bedeckungsveränderlichen

Veröffentlichu-ngen der Sternwarte in Sonneberg'Band], Nr. 4

DEUTSCHE AKADEMIE DER W I S S E N S C H A F T E N ZU B E R L I N

Veröffentlichungen der Sternwarte in S o n n e b e r g Band 1 Nummer 4

H. Schneller

Eine einfache Methode zur Bestimmung der Systemkonstanten bei Bedeckungsveränderlichen

Akademie-Verlag GmbH

• Berlin

1949

Erschienen im Akademie-Verlag GmbH., Berlin NW 7, Schiffbauerdamm 19 Lizenz-Nr. 156 • 2546/48 —714/48 Druck: Julius Beltz, Langensalza • Genehmigt für L.-Nr. 66 Bestell- und Verlagsnummer: 5006/1/4 Preis: 7,25 DM

Zusammenstellung der Bezeichnungen •&

Phasenwinkel, das ist die Länge in der Bahn derjenigen Komponente mit der geringeren Flächenhelligkeit. Die Länge o° fällt mit dem Hauptminimum zusammen. i die Neigung der Bahnebene gegen die Tangentialebene, die gleichzeitig die Projektionsebene ist. r g Radius der (linear) größeren Komponente. r k Radius der (linear) kleineren Komponente. r wird in Einheiten des Bahnradius a ausgedrückt. das RadienVerhältnis: r k ¡rg. h d der scheinbare Abstand der Scheibenmitten in Einheiten von r g . . p der scheinbare Abstand der Mitte der kleineren Scheibe vom Rand der großen in Einheiten von rk. a die jeweils in der partiellen Phase bedeckte Fläche in Einheiten von r\n. a 0 die im Minimum bedeckte Fläche in Einheiten von r\n. I Helligkeit an einer beliebigen Stelle der partiellen Phase. A Helligkeit im Minimum'; AH Hauptminimum, Ax Nebenminimum. H Helligkeit des Systems. L Gesamthelligkeit einer Komponente. J Flächenhelligkeit. y Verhältnis der Flächenhelligkeiten. r, v' große und kleine Achse der ellipsoidisch geformten Komponenten, r ist die in der Bahnebene liegende Achse, die nach dem Zentrum der anderen Komponente weist, r' ist die in der Bahnebene liegende und zu r senkrechte Achse. Die auf der Bahnebene senkrecht stehende Achse bleibt photometrisch unbestimmbar. r2 r"i e die numerische Exzentrizität, e2 = . 2 r z effektive Elliptizität, z = e2 sin2 i .

Ableitung der neuen Methode Die von R U S S E L L ausgearbeitete Methode [ I ] und die später von anderen Autoren mitgeteilten Modifizierungen zur Bestimmung von Systemkonstanten bei Bedeckungsveränderlichen gehen sämtlich von der Grundgleichung cos2 i -f- sin2 i sin2 &n = die wir in der Form schreiben, aus.

i — sin 2 i cos2

= rg